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日本photonic-lattice在線測量離線映射儀

日本photonic-lattice在線測量離線映射儀KAMAKIRI MEM-LS
KAMAKIRI MEM-LS 可以用一臺相機(jī)在線測量和檢查所需的線位置和薄膜寬度方向部分，就像抽樣檢查一樣。
結(jié)果，可以縮短抽檢時(shí)間，迅速停止不良品的生產(chǎn)，提高成品率。
可根據(jù)客戶線路情況定制并提供安裝治具。
此外，如果需要固定設(shè)備或測量全寬，可以升級到 KAMAKIRI STS-LS。

  • 產(chǎn)品型號：KAMAKIRI MEM-LS
  • 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間：2023-04-07
  • 訪  問  量：771
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產(chǎn)品詳情

日本photonic-lattice在線測量離線映射儀KAMAKIRI MEM-LS

日本photonic-lattice在線測量離線映射儀KAMAKIRI MEM-LS






一臺機(jī)器多條生產(chǎn)線的啟動調(diào)整輔助
在感興趣的寬度位置進(jìn)行局部檢查

現(xiàn)場監(jiān)控

  • 顯示相位差和主軸方向分布

  • 分布隨時(shí)更新

  • 顯示寬度線輪廓

  • OK/NG判斷

分析

  • 保存測量結(jié)果后。可以進(jìn)行各種分析

  • [分析項(xiàng)目]

    • 統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)（最大值、最小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差）

    • 寬度方向線輪廓

    • 輸送方向線剖面圖


規(guī)格
類型名稱

  • KAMAKIRI MEM-LS

介紹的主要目的

  • 部分檢查
    原型線評估

系統(tǒng)特點(diǎn)

  • 1.配置簡單
    2.實(shí)時(shí)監(jiān)控
    3.可修改為STS

測量項(xiàng)目

  • 相位差主軸方向

相位差測量范圍

  • 0~260nm

相位差重復(fù)性

  • <±1納米

主軸方位測量范圍

  • 0~180°

主軸重復(fù)積

  • < 1°

標(biāo)準(zhǔn)測量中心波長

  • 543nm *如需更改中心波長，請與我們聯(lián)系。

測量點(diǎn)數(shù)

  • 424

線掃描時(shí)的最大測量

  • 大約 600 毫米 *每個(gè)相機(jī)的測量寬度。

對應(yīng)輸送速度

  • ~30m/min *如果您想支持更高的傳輸速度，請聯(lián)系我們。

軟件 [日語/英語]

  • KAMAKIRI 內(nèi)聯(lián)基礎(chǔ)軟件

定制跟蹤記錄

  • 提供單相機(jī) 2m 薄膜寬度橫動系統(tǒng)
    毫米級雙折射不均勻檢測模式








































可根據(jù)線路安裝的移動型  可根據(jù)線路安裝的移動型

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